講義並びに該当実習について各自予習をしておいて下さい。 また、必要科目をプリントアウトして、夏の学校に持参するようにしてください。
参加者の皆さまには後日、第1日目の講義1~3から一課題、第2日目の講義4~7から一課題、実習二科目履修のうち一課題(合計三課題)のレポートを提出して頂きます。 レポートは各担当講師による添削後メールにて返却致します。
講座 | タイトル | 講師(所属) | テキスト |
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1 | 放射光発生の基礎 | 金城 良太(理化学研究所) | 714KB |
2 | X線光学の基礎 | 山崎 裕史(高輝度光科学研究センター/兵庫県立大学) | 792KB |
3 | X線の強度を測る | 雨宮 慶幸(東京大学) | 4.28MB |
4 | X線自由電子レーザー | 大和田 成起(理化学研究所) | 1.20MB |
5 | 回折・散乱の基礎と物質科学研究への応用 | 藤原 明比古(関西学院大学) | 310KB |
6 | X線分光の基礎 | 水牧 仁一朗(高輝度光科学研究センター) | 601KB |
7 | 軟X線を用いた磁性体研究入門 | 和達 大樹(東京大学 物性研究所) | 504KB |
BL | タイトル | 担当者(所属) | テキスト |
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BL01B1 | "その場" XAFS計測 | 宇留賀 朋哉・加藤 和男・伊奈 稔哲(JASRI) | 483KB |
BL02B1 | 単結晶構造解析の入門 | 池田 直(岡山大学)・杉本 邦久・安田 伸広(JASRI) | 569KB |
BL02B2 | 粉末X線構造解析の基礎 | 杉本 邦久・河口 彰吾(JASRI) | 1.20MB |
BL04B2 | 高エネルギーX線を用いたガラスの構造解析 | 尾原 幸治(JASRI)・小野寺 陽平(京都大学) | 576KB |
BL07LSU | 推理の放射光元素分析 | 松田 巖(東京大学) | 2.36MB |
BL11XU | 半導体結晶成長のその場X線回折測定 | 高橋 正光・佐々木 拓生(量子機構) | 674KB |
BL13XU | サブミクロン集光放射光ビームによる局所領域回折実験 | 木村 滋(JASRI/岡山大学)・隅谷 和嗣(JASRI) | 1.21MB *参考資料 (1)718KB (2)2.60MB |
BL14B2 | XAFS分析の基礎 | 本間 徹生・大渕 博宣・内山 智貴(JASRI) | 258KB |
BL17SU | 光電子顕微鏡 ~ナノ分解能で見る元素分布と磁気構造~ | 大河内 拓雄・保井 晃(JASRI)・大浦 正樹(理研/関西学院大学) | 868KB |
BL20B2 | 放射光X線画像計測の基礎 | 上杉 健太朗(JASRI) | 230KB *1 |
BL23SU | 放射光光電子分光法による物質の電子状態分析 | 藤森 伸一(JAEA) | 7.20MB |
BL24XU | 放射光X線計算機トモグラフィ(CT)法の基礎 | 篭島 靖・漆原 良昌(兵庫県立大学) | 0.99MB |
BL25SU | 高分解能軟X線光電子分光 | 横谷 尚睦・寺嶋 健成(岡山大学)・中村 哲也・室 隆桂之(JASRI) | 1.38MB |
BL33LEP | GeV光ビームと物質の相互作用 | 中野 貴志・與曽井 優・郡 英輝(大阪大学)・新山 雅之(京都大学) | 281KB |
BL38B1 | 単結晶回折(タンパク質) | 熊坂 崇(JASRI/理研/関西学院大学) | 695KB *2 |
BL40B2 | X線小角散乱法を用いたタンパク質分子の構造解析 | 関口 博史・八木 直人(JASRI) | 391KB *3 |
BL43IR | 顕微赤外分光による種々の組成分布解析 | 池本 夕佳・森脇 太郎(JASRI) | 2.90MB |
BL44XU | 単結晶回折(タンパク質) | 中川 敦史・山下 栄樹・東浦 彰史(大阪大学) | 695KB *2 |
BL45XU | X線小角散乱法を用いたタンパク質分子の構造解析 | 引間 孝明・吾郷 日出夫(理研) | 391KB *3 |
BL46XU | 硬X線光電子分光 | 安野 聡・小金澤 智之(JASRI) | 548KB |
*1 BL実習の際には、各自ノートPCをご持参ください。
*2 BL38B1とBL44XUは同一内容となっております。
*3 BL40B2とBL45XUは同一内容となっております。
加速器収納部見学(7月5日(火)17:30~18:45)の資料です。各自予習をしておいて下さい。